數(shù)字芯片驗(yàn)證就業(yè)班
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課程大綱 |
內(nèi)容簡介 |
1 |
功能驗(yàn)證與驗(yàn)證平臺總述 |
什么是數(shù)字芯片驗(yàn)證,驗(yàn)證在芯片研發(fā)中的角色以及如何全方位開展驗(yàn)證,包含數(shù)字設(shè)計(jì)全流程介紹,數(shù)字電路Verilog HDL設(shè)計(jì)入門以及常見語句簡介,Verilog HDL設(shè)計(jì)搭建最簡單的驗(yàn)證平臺,查看波形驗(yàn)證設(shè)計(jì),介紹常用EDA工具 |
2 |
System Verilog數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu) |
驗(yàn)證平臺中常用的數(shù)據(jù)類型以及函數(shù)介紹,以實(shí)操題目快速掌握知識點(diǎn),結(jié)構(gòu)體,枚舉,以及l(fā)ogic,wire,reg等數(shù)據(jù)介紹,隊(duì)列以及數(shù)組的操作。 |
3 |
面向?qū)ο缶幊淘隍?yàn)證中的應(yīng)用 |
掌握System Verilog中面向?qū)ο笤诟鱾€(gè)組件中的應(yīng)用,配以實(shí)操題目。包含面向?qū)ο笞钪匾姆庋b、繼承、多態(tài)的知識點(diǎn)。 |
4 |
驗(yàn)證平臺中的約束與隨機(jī) |
隨機(jī)、約束在驗(yàn)證平臺中的作用,掌握如何隨機(jī),如何約束。 |
5 |
驗(yàn)證平臺中的斷言和覆蓋率 |
學(xué)習(xí)斷言以及覆蓋率相關(guān)的知識點(diǎn),掌握斷言的語法以及寫法,掌握功能覆蓋率的寫法。 |
6 |
線程間的通信 |
了解驗(yàn)證平臺和DUT的通信方式,掌握阻塞和非阻塞的概念 |
7 |
System Verilog驗(yàn)證平臺實(shí)例 |
通過一個(gè)System Verilog的驗(yàn)證實(shí)例,掌握驗(yàn)證平臺結(jié)構(gòu),一個(gè)完整的驗(yàn)證平臺包含了HDL、HVL以及包含clk、reset的TOP層。 |
8 |
從System Verilog到UVM驗(yàn)證平臺 |
通過上一章的System Verilog驗(yàn)證平臺,切入U(xiǎn)VM驗(yàn)證平臺,介紹什么是UVM,UVM與SV的關(guān)系,為什么要用UVM,UVM的便利性。UVM的phase機(jī)制。 |
9 |
Transaction與Sequence |
Transaction和Sequence在驗(yàn)證平臺中的作用和基本思路。解釋UVM中刺激的產(chǎn)生,創(chuàng)建UVM序列項(xiàng)(事務(wù)),學(xué)習(xí)如何構(gòu)造簡單的UVM序列,描述序列和驅(qū)動(dòng)程序之間的握手。 |
10 |
Sequencer、Drivers與TLM |
Sequencer、Driver和TLM在驗(yàn)證平臺中的作用和基本思路;解釋UVM排序器和驅(qū)動(dòng)程序; |
描述如何創(chuàng)建仿真友好的驅(qū)動(dòng)程序;學(xué)習(xí)如何開發(fā)UVM排序器和驅(qū)動(dòng)程序,如何將事務(wù)轉(zhuǎn)移到DUT;解釋事務(wù)級建模傳輸(TLM);描述事務(wù)端口和導(dǎo)出。 |
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11 |
Monitor與Agent |
Monitor和Agent在UVM驗(yàn)證平臺中的作用和基本思路。創(chuàng)建采樣DUT輸出的UVM Monitor;解釋如何使用UVM分析端口發(fā)送事務(wù);學(xué)習(xí)創(chuàng)建和使用UVM Agent; |
配置UVM Agent為ActiveAgent或Passive Agent。 |
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12 |
覆蓋率收集 |
覆蓋率收集注意點(diǎn),如何收集覆蓋率。 |
回顧SystemVerilog功能覆蓋;演示構(gòu)建和抽樣覆蓋組;查看報(bào)告覆蓋率;學(xué)習(xí)在UVM中應(yīng)該在哪里收集覆蓋信息;演示如何將覆蓋收集器連接到監(jiān)視器/代理 |
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13 |
Scorboard與Enviroment |
Scoreboard和Env在UVM驗(yàn)證平臺中的作用以及基本思路和寫法。 |
解釋TLM分析連接;解釋記分牌概念;學(xué)習(xí)如何預(yù)測預(yù)期的DUT輸出。構(gòu)建一個(gè)UVM計(jì)分板,將預(yù)測結(jié)果與實(shí)際輸出值進(jìn)行比較。 |
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14 |
Configuration與Factory |
驗(yàn)證平臺配置和工廠模式。描述UVM配置數(shù)據(jù)庫;解釋組件配置;學(xué)習(xí)如何在組件和序列之間傳遞配置信息;學(xué)習(xí)如何描述UVM工廠;學(xué)習(xí)如何使用工廠創(chuàng)建組件和事務(wù);演示工廠覆蓋如何改變測試臺的行為。 |
15 |
芯片驗(yàn)證流程綜述 |
芯片驗(yàn)證流程綜述??偨Y(jié)完整的芯片驗(yàn)證流程。包括驗(yàn)證策略,驗(yàn)證過程中的時(shí)間分配等。 |
16 |
小作業(yè):實(shí)驗(yàn)訓(xùn)練總結(jié) |
小作業(yè):驗(yàn)證項(xiàng)目實(shí)訓(xùn)。從0開始,寫一個(gè)小的設(shè)計(jì),并對此設(shè)計(jì)進(jìn)行UVM驗(yàn)證平臺編寫。 |
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階段 |
內(nèi)容簡介 |
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開工指導(dǎo) |
數(shù)字芯片仿真驗(yàn)證知識回顧學(xué)習(xí),芯片驗(yàn)證全流程介紹,實(shí)訓(xùn)項(xiàng)目介紹, 項(xiàng)目方案(芯片規(guī)格)學(xué)習(xí)。
學(xué)習(xí)目的:芯片規(guī)格在芯片驗(yàn)證中的作用。
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開工準(zhǔn)備 |
學(xué)習(xí)如何進(jìn)行驗(yàn)證測試點(diǎn)的分解,指導(dǎo)學(xué)員入手進(jìn)行測試點(diǎn)驗(yàn)證 環(huán)境使用說明,驗(yàn)證方案學(xué)習(xí)
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提取測試點(diǎn) |
自行提取測試點(diǎn),組織review,答疑,教師提取測試點(diǎn)分享 |
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初步運(yùn)行 |
初步運(yùn)行驗(yàn)證環(huán)境,跑通example testcase,答疑 |
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完善驗(yàn)證環(huán)境 |
補(bǔ)全驗(yàn)證環(huán)境缺失組件,完成測試點(diǎn)對應(yīng)TC,完成所有點(diǎn)測試點(diǎn)測試 階段性總結(jié)文檔
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覆蓋率收集 |
功能覆蓋率模型學(xué)習(xí)以及編碼, 功能覆蓋率、代碼覆蓋率收集
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驗(yàn)證報(bào)告寫作 |
完成芯片驗(yàn)證報(bào)告以及checklist自檢, 學(xué)習(xí)驗(yàn)證報(bào)告書寫,養(yǎng)成驗(yàn)證規(guī)范好習(xí)慣
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